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Perthometer S2粗糙度儀

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Perthometer S2粗糙度儀

特點:
可根據現行標準進行粗糙度和波紋度測量(DIN EN ISO 3274, 如. 帶通濾波器)
盡管包含了充電電池，機身重量也很輕
大尺寸、高清晰圖形顯示，顯示結果和輪廓圖形
自動提示設計和超大按鈕使儀器易于操作
利用內置的熱敏打印機可實現快捷的文件打印
PCMCIA 存儲卡能存儲測量程序、結果和輪廓
附加的S2Prog 編程軟件，方便你輕易新建測量程序
范圍廣、方便使用的軟件功能，例如
- 自動設定標準化濾波器和行程長度
- 校準和維護周期的自動監(jiān)控
- ARC 功能用于消除arc 影響
- 動態(tài)和靜態(tài)校準過程
- 可評定多達 41 參數，根據DIN EN ISO, JIS, ASME, MOTIF,
  R, W, P 和 D 設定的輪廓參數標準，以及MRK/ADK 等特征曲線 
- 多種濾波器和行程長度可選
- 聲光信號提示的公差監(jiān)控
- 儀器設置鎖定，以防止意外更改和密碼保護
- 內置統(tǒng)計功能
- 功能鍵鍵計，一鍵開始某個獨立功能
- 快速調用和打印某測量記錄和測量功能
軟件可通過PCMCIA 存儲卡進行升級
PLC 接口用于集成S2至您生產線上
RS 232 C 接口用于數據傳送與遠程控制

具體如下圖所示 ：

技術數據：
測量原理  → 探針接觸測量法
測量范圍
范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步長/垂直范圍
11,200 測量點/標準掃瞄長度
標準  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉) 
垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調
(.022 in 至 4.724 in)
技術特征
• 依照 ISO / JIS 或 MOTIF標準, 可測量多達 65 種參數,  包括
R, P 和 W 輪廓
• 公差監(jiān)控和數據統(tǒng)計功能
• 通過 Teach-In 模式, 快速建立 Quick & Easy 測量程序
• 廣泛的記錄功能
• 模擬操作可幫助操作者更快地悉識系統(tǒng)操作
• 按客戶的實際應用情況, 選擇不同的系統(tǒng)兀配置
• 可設置不同水平的用戶權限
• 通過計算機連接打印機, 可打印 A 4 表格
• 可在計算機上獲得所測的輪廓
•  條形圖顯示傳感器位置信號
•  數字按鈕輸入
•  可記錄測量日期和時間
•  輪廓水平和垂直方向縮放比例可調
•  可快速顯示測量結果, 包括參數和輪廓演示